Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT500

Производитель:

JEOL

Страна:

Япония

Тип:

электронный

Увеличение:

5x — 300 000x (в пересчете наразмеры фотопластины 128 x 96мм)

Катод:

Термоэмиссионный, вольфрамовый или LaB6, предварительно центрированный на заводе

Вакуумная система:

Полностью автоматизирована, Турбомолекулярный насос — 1 шт., Форвакуумный ротационный насос — 2 шт.(в конфигурации LV/LA), 1 шт. (в высоковакуумной конфигурации)

Вакуумный шлюз:

Доступен

Низковакуумный режим:

Доступен

Опционально:

Энергодисперсионный спектрометр, Спектрометр с дисперсией по длинам волн, Система дифракции отражённых электронов, Спектрометр комбинационного рассеяния света, Система рентгеновского флуоресцентного микроанализа , Система катодолюминесценции, Наноманипуляторы, Детектор тока,индуцированного пучком (EBIC), Столики образцов с функциями охлаждения и нагрева, Столик образцов для механических испытаний

Предметный стол:

Эвцентрический гониометрический столик, Моторизованный по 5-ти осям, Диапазон перемещений: X: 125 мм, Y: 100 мм, Z: 80 мм, Наклон: от -10 до 90°, Вращение: 360°, непрерывное

Размеры получаемых изображений:

до 5120х3840 пикс

Разрешение в режиме высокого вакуума:

2,5 нм (30 кВ, LaB6 катод), 3,0 нм (30 кВ, вольфрамовый катод), 8,0 нм (3 кВ), 15,0 нм (1 кВ)

Разрешение в режиме низкого вакуума:

3,5 нм (30 кВ, LaB6 катод, детектор отраженных электронов), 4,0 нм (30 кВ, W катод, детектор отраженных электронов)

Ток пучка:

от 1 пА до 1мкА

Формат изображения:

BMP, TIFF, JPEG

Формат регистрируемых видеороликов:

AVI