Москва

с 9:00 до 18:00

Укажите свой город
Москва
Санкт-Петербург
Екатеринбург
Нижний Новгород
Новосибирск
Челябинск
Ростов-на-Дону
Самара
Иркутск
Кемерово
Саратов
Волгоград
Омск
Воронеж
Белгород
Тула
Оренбург
Томск
Ярославль
Смоленск
Владимир
Тюмень
Вологда
Ульяновск
Киров
Тверь
Пенза
Калининград
Брянск
Калуга
Рязань
Архангельск
Липецк
Иваново
Курск
Мурманск
Астрахань
Тамбов
Благовещенск
Курган
Орёл
Южно-Сахалинск
Псков
Великий Новгород
Кострома
Магадан
Биробиджан
Назад
Москва
Санкт-Петербург
Екатеринбург
Нижний Новгород
Новосибирск
Челябинск
Ростов-на-Дону
Самара
Иркутск
Кемерово
Саратов
Волгоград
Омск
Воронеж
Белгород
Тула
Оренбург
Томск
Ярославль
Смоленск
Владимир
Тюмень
Вологда
Ульяновск
Киров
Тверь
Пенза
Калининград
Брянск
Калуга
Рязань
Архангельск
Липецк
Иваново
Курск
Мурманск
Астрахань
Тамбов
Благовещенск
Курган
Орёл
Южно-Сахалинск
Псков
Великий Новгород
Кострома
Магадан
Биробиджан
Ваша корзина
пуста
Перейти в корзину

Мощные электронные микроскопы

Мощные электронные микроскопы
Производитель
Страна
Тип
Напряжение, В
Анализ
Апертурная диафрагма
Блок флуоресценции
Вакуумная система
Вакуумный шлюз
Вместимость предметных стекол
Время выдержки
Время сканирования
Высота образца
Давление в камере образцов при работе в низковакуумном режиме
Детекторы
Диапазон компуцентрического наклона
Диапазон рабочих отрезков
Диапазон энергий электронного пучка
Диапазоны перемещений столика для образцов РЭМ
Источник ионов
Источник электронов
Камера
Компьютер
Максимально допустимые размеры образцов
Максимальное поле обзора
Модификации
Навигация
Наклон
Низковакуумный режим
Объективы
Оптическая система
Опционально
Поддержка штрих-кода
Предметный стол
Рабочее расстояние
Размеры получаемых изображений
Разрешение в режиме анализа
Разрешение в режиме высокого вакуума
Разрешение в режиме низкого вакуума
Разрешение изображений во вторичных электронах
Разрешение изображения
Револьвер объективов
Режим высокого вакуума
Режим сканирования
Режимы наблюдения
Соотношение сторон изображения
Технология сканирования
Ток пучка
Увеличение
Ускоряющее напряжение
Фокусировка
Формат изображения
Формат регистрируемых видеороликов
Электронная пушка
Фильтр
Популярность Название Цена
Страна: Китай
Тип: электронный
Детекторы: SE, BSD, CCD, (Опция): EDS
Страна: США
Тип: электронный
Разрешение изображения: до 6144 x 4096 пикселей
Формат изображения: TIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG
Страна: США
Тип: электронный
Угол поворота: n x 360°
Наклон: -15°/+90°
Страна: США
Тип: электронный
Угол поворота: n x 360°
Наклон: -15°/+90°
Разрешение изображения: до 6144 х 4096 пикс
Формат изображения: TIFF (8, 16, 24 bit), BMP, JPEG
Страна: США
Тип: электронный
Угол поворота: n x 360°
Наклон: -15°/+90°
Разрешение изображения: до 6144 × 4096 пикселей
Формат изображения: TIFF (8, 16, 24 бит), JPEG или BMP
Страна: США
Тип: электронный
Разрешение изображения: 456х456, 684х684, 1024х1024, 2048х2048
Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP
Страна: США
Тип: электронный
Разрешение изображения: 456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP
Страна: США
Тип: электронный
Разрешение изображения: 456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP
Страна: США
Тип: электронный
Разрешение изображения: 456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP
Страна: США
Тип: электронный
Наклон: -15°/+70°
Разрешение изображения: до 6144 x 4096 пикселей
Увеличение: 14 – 1 000 000 x
Формат изображения: TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG
Страна: США
Тип: электронный
Угол поворота: n x 360°
Наклон: -15°/+75° (-10° ... +60° UC)
Страна: США
Тип: электронный
Угол поворота: n x 360°
Наклон: -15°/+90°
Разрешение изображения: до 6144×4096 пикс.
Формат изображения: TIFF (8, 16, 24 bit), BMP, JPEG
Страна: Китай
Тип: электронный
Детекторы: Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE)
Увеличение: 15X -800000X
Страна: Китай
Тип: электронный
Детекторы: Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE)
Увеличение: 15X- 500000X
Страна: Китай
Тип: электронный
Детекторы: Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), BSE, EDS, EBSD - опционально
Оптическая система: Диафрагма объектива - молибденовая, регулируемая внешней вакуумной системой, Система линз - трехуровневая электромагнитная линза (конический тип)
Увеличение: Инвертированное увеличение: 15X-250000X, Экранное увеличение: 30X - 500000X
Страна: Китай
Тип: электронный
Детекторы: Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE)
Оптическая система: Диафрагма объектива - молибденовая, регулируемая внешней вакуумной системой, Система линз - трехуровневая электромагнитная линза (конический тип)
Увеличение: Инвертированное увеличение:6X -300000X, Экранное увеличение:12X -600000X
Страна: Чехия
Тип: электронный
Увеличение: непрерывное от 2× до 1 000 000×
Выводить по: 20