Напольные микроскопы
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Разрешение изображения: | до 6144 × 4096 |
| Формат изображения: | TIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Угол поворота: | n x 360° |
| Наклон: | -15°/+90° |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Разрешение изображения: | до 6144 × 4096 |
| Угол поворота: | n x 360° |
| Наклон: | -15°/+90° |
| Формат изображения: | TIFF (8, 16, 24 bit), BMP, JPEG |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Разрешение изображения: | до 6144 × 4096 |
| Угол поворота: | n x 360° |
| Наклон: | -15°/+90° |
| Формат изображения: | TIFF (8, 16, 24 бит), JPEG или BMP |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 14x — 1 000 000x |
| Разрешение изображения: | до 6144 × 4096 |
| Наклон: | -15°/+70° |
| Формат изображения: | TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Угол поворота: | n x 360° |
| Наклон: | -15°/+75° (-10° ... +60° UC) |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Формат изображения: | TIFF |
| Страна: | США |
| Тип: | электронный |
| Разрешение изображения: | до 6144 × 4096 |
| Угол поворота: | n x 360° |
| Наклон: | -15°/+90° |
| Формат изображения: | TIFF (8, 16, 24 bit), BMP, JPEG |
| Страна: | Китай |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 15x — 800 000x |
| Детекторы: | Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE) |
| Страна: | Китай |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 15x — 500 000x |
| Детекторы: | Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE) |
| Страна: | Китай |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 15x — 250 000x (инвертированное), 30x — 500 000x (экранное) |
| Детекторы: | Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), BSE, EDS, EBSD - опционально |
| Оптическая система: | Диафрагма объектива - молибденовая, регулируемая внешней вакуумной системой, Система линз - трехуровневая электромагнитная линза (конический тип) |
| Страна: | Китай |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 6x — 300 000x (инвертированное), 12x — 600 000x (экранное) |
| Детекторы: | Высоковакуумный детектор вторичных электронов SE (с защитой детектора), Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (BSE) |
| Оптическая система: | Диафрагма объектива - молибденовая, регулируемая внешней вакуумной системой, Система линз - трехуровневая электромагнитная линза (конический тип) |
| Страна: | Чехия |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 2x — 2 000 000x |
| Страна: | Чехия |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 2x — 2 000 000x |
| Страна: | Чехия |
| Тип: | электронный |
| Страна: | Чехия |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 2x — 2 000 000x |
| Страна: | Чехия |
| Тип: | электронный |
| Страна: | Япония |
| Тип: | электронный |
| Увеличение: | 10x — 1 000 000x |
