Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-IT700HR

Производитель:

JEOL

Страна:

Япония

Тип:

электронный

Увеличение:

5x — 600 000x (в пересчете на размеры фотопластины 128 x 96мм)

Катод:

ZrO2/W (Шоттки)

Вакуумная система:

Полностью автоматизирована, Турбомолекулярный насос — 1 шт., Ионный насос — 2 шт., Форвакуумный ротационный насос — 1 шт.

Низковакуумный режим:

Доступен

Опционально:

Энергодисперсионный спектрометр, Спектрометр с дисперсией по длинам волн, Система дифракции отражённых электронов, Спектрометр комбинационного рассеяния света, Система рентгеновского флуоресцентного микроанализа, Система катодолюминесценции, Наноманипуляторы, Детектор тока, индуцированного пучком(EBIC), Столики образцов с функциями охлаждения и нагрева, Столик образцов для механических испытаний

Предметный стол:

Эвцентрический гониометрический столик, Моторизованный по 5-ти осям, Диапазон перемещений: X: 125 мм, Y: 100 мм, Z: 80 мм, Наклон: от -10 до 90°, Вращение: 360°, непрерывное

Размеры получаемых изображений:

до 5120х3840 пикс

Разрешение в режиме высокого вакуума:

1,0 нм (20 кВ, рабочий отрезок – 5 мм), 3,0 нм (1 кВ, рабочий отрезок – 5 мм), 3,0 нм (15 кВ, 3 нА, рабочий отрезок –10 мм)

Разрешение в режиме низкого вакуума:

1,8 нм (BEI, 15 кВ, рабочий отрезок – 5 мм, 10 Па)

Ток пучка:

от 1 пА до 300 нА

Формат изображения:

BMP, TIFF, JPEG

Формат регистрируемых видеороликов:

AVI